仪器名称

TEM

设备用途

对于样品中纳米级以下颗粒的分布与标定、材料中的微量参杂、结晶材料的缺陷结构、以及薄膜的界面结构与元素扩散，能提供极具分析价值的信息

技术指标

高压 ：80-200 kV

Schottky 热场电子枪

球差矫正系统（针对电子束斑）

功能模块 ：透射（TEM）、扫描穿透（STEM）、电子衍射（DP）、纳米光束电子衍射（NBED）、扫描穿透明场及暗场相（STEM-HAADF/STEM-ABF）、能谱分析。

最佳空间分辨率 ：0.19  nm (TEM)、0.082 nm(STEM)

倍率：50 ~ 2Mx (TEM)、100 ~ 150Mx (STEM)

样品台可倾转角度：XY方向-25 ~ 25 

能谱仪 ：

探测器面积/100 mm2

 能量分辨率/123 eV (Mn K)

 范围/Li3 ~ U92

 无窗口设计

测试项目/价格

面议